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FAST SDD®超高性能矽漂移探測器

FAST SDD®超高性能矽漂移探測器

X-Ray探測器
  • 提供不同尺寸的探測器：
  •     25 mm2 (工作面積準直至 17 mm2)
  •     70 mm2 (工作面積準直至 50 mm2)
  • 5.9 keV 時解析度為 122 eV FWHM
  • 計數率 > 1,000,000 CPS
  • 高峰背景比 – 26,000/1
  • 視窗：Be (0.5 mil) 12.5 µm、Be (0.3 mil) 8 µm 或專利 C 系列 (Si3N4)
  • 防輻射硬
  • 探測器厚度：500 mm、1000 mm
  • 前級擴大機輸出上升時間：
  • 對於 500mm 厚的偵測器，<35 ns
  • 對於 1000mm 厚的探測器，<60 ns
  • TO-8封裝
  • 冷卻ΔT>85 K
  • 內部多層准直器

Amptek 最近將矽晶圓製造引入內部並改進了製程。其結果是探測器具有更低的雜訊、更低的漏電流、更好的電荷收集以及探測器之間的一致性。這使其成為性能最佳的矽漂移探測器，並且是真正最先進的。

FAST SDD® 代表了 Amptek 最高性能的矽漂移探測器 (SDD)，計數率能夠超過 1,000,000 CPS（每秒計數），同時保持出色的分辨率。FAST SDD® 還配備我們的專利 C 系列 (Si3N4) 低能量窗口，用於軟 X 射線分析。

與我們的傳統 SDD 在密封 TO-8 封裝內使用結型閘極場效電晶體 (JFET) 以及外部前置放大器不同，FAST SDD 在 TO-8 內部使用互補金屬氧化物半導體 (CMOS) 前置放大器8封裝，並以金屬氧化物半導體場效電晶體(MOSFET) 取代JFET。這顯著降低了電容，從而提供更低的串聯噪聲，並在非常短的峰值時間內提高分辨率。FAST SDD® 使用相同的偵測器，但具有前置放大器，可在短峰值時間內提供更低的雜訊。提高（降低）解析度可以隔離/分離具有接近能量值的螢光 X 射線，否則峰值會重疊，從而使用戶能夠更好地識別樣品中的所有元素。短的峰值時間也能顯著提高計數率；更多計數提供更好的統計數據

 

應用：

  • 超快速桌上型和手持式 XRF 分析儀
  • SEM 系充中EDS之應用
  • 線上製程控制
  • X 光分選機
  • 空間與天文學
  • 同步輻射光譜研究
  • OEM

General

Detector Type

Silicon Drift Detector (SDD) with CMOS preamplifier

Detector Size

25 mm2 - collimated to 17 mm2
Also available 70mm2 - collimated to 50 mm2

Silicon Thickness

500 µm  or 1000um available

Collimator

Internal MultiLayer Collimator (ML)

Energy Resolution @ 5.9 keV (55Fe)

122 - 129 eV FWHM at 4 µs peaking time (guaranteed)

Peak to Background

20,000:1 (ratio of counts from 5.9 keV to 1 keV) (typical)

Detector Window Options

Beryllium (Be): 0.5 mil (12.5 µm) or 0.3 mil (8 µm)
Patented C Series (Si3N4) Low energy windows

Charge Sensitive Preamplifier

CMOS

Gain Stability

<20 ppm/°C (typical)

Size
(see Configurations)

Detector module: TO-8 package (0.640 in. high including pins, 0.600 in. diameter)
XR100 box: 3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm) excluding extender
X-123 box: 2.7 x 3.9 x 1 in (7 x 10 x 2.5 cm ) excluding extender
OEM configurations vary

Weight
(see Configurations)

Detector module: 0.14 oz (4.1 g)
XR100 box: 4.4 ounces (125 g)
X-123 box: 6.3 oz (180 g)
OEM configurations vary

Total Power

<2 Watt

Warranty Period

1 Year

Typical Device Lifetime

5 to 10 years, depending on use

Operation conditions

-35°C to +80°C

Storage and Shipping

Long term storage: 10+ years in dry environment
Typical Storage and Shipping: -40°C to +85°C, 10 to 90% humidity non condensing

TUV Certification
Certificate #: CU 72072412 02
Tested to: UL 61010-1: 2004 R7 .05
CAN/CSA-C22.2 61010-1: 2004

Inputs

Preamp Power

XR100 configuration: ±8 V @ 15 mA with no more than 50 mV peak-to-peak noise
X123 or OEM configuration (PA210/230 or X-123): ±5 V

Detector Power

-100 to -180 V @ 25 µA very stable <0.1% variation

Cooler Power

Current = 450 mA maximum, voltage = 3.5 V maximum with <100 mV peak-to-peak noise
Note: the XR-100 can include its own internal temperature controller

Outputs

Preamplifier Sensitivity

3.6 mV/keV typical (may vary for different detectors)

Preamplifier Polarity

Positive signal output (1 kohm maximum load)

Preamplifier Feedback

Reset

Temperature Monitor Sensitivity

Varies with configuration
When used with PX5, DP5, or X-123: direct reading in Kelvin through software.

Preamplifier Output Rise Time

<35 ns for 25mm2, <60 ns for 70mm2