PAR VersaSCAN 掃瞄式電化學分析系統
VersaSCAN 是一個單一平台,能夠為電化學和基於材料的測量提供空間解析度。每個 VersaSCAN 都基於安裝在抗振光學底座上的通用高解析度、長行程、閉環定位系統。定位系統上安裝有不同的輔助件。這些輔助部件(例如,靜電計、壓電振動單元或雷射感測器)為定位系統提供用於不同掃描探針實驗的功能。VersaSTAT 恆電位儀和訊號恢復鎖定放大器透過乙太網路控制集成,以對這些小訊號進行精確測量。
每種技術都使用不同的測量探頭,該探頭位置靠近樣品,但不接觸樣品。在探頭上進行測量後,其位置會增加。繪製記錄的參數與探頭位置的關係圖可建立資料圖。根據技術的不同,此圖可以表示局部電化學電流、阻抗、相對功函數或形貌。
包含:
- 掃瞄式電化學顯微鏡(SECM)
-等距離掃瞄- 軟探針技術(Stylus SECM)
-無氧化介質SECM技術(AC-SECM) - 掃瞄式振動電極測量系統(SVET)
- 微區電化學阻抗系統(LEIS)
- 掃瞄式凱爾文探針系統(SKP)
- 掃瞄式微液滴系統(SDC)
- 非接觸式光學微區形貌探測系統(OSP)
- 表面離子濃度成像系統(ISP)
VersaSCAN掃描電化學工作站 是一個平台能夠為電化學和材料的測量提供空間解析度。該系統整合了定位系統、測量儀器和探頭以提供本地資訊。 傳統的電化學實驗測量整個電極、電解質界面的平均反應。樣品很少是同質的。樣品通常由鈍化或活性的局部位點以及陽極或陰極特徵的位點組成。這種研究局部現象的需要導致了掃描探針電化學的出現。
定位系統:
VersaSCAN 的獨特之處在於使用壓電馬達來驅動所有軸上的平台。
壓電材料可以在小距離內以非常高的精度、準確度和可重複性移動。我們用它們來驅動舞台;因此,我們實現了無與倫比的掃描區域和掃描解析度的組合。
AFM 不會以相同的掃描範圍移動(通常僅有壓電元件;沒有平台)
替代定位系統設計使用步進電機,單獨使用或作為混合系統的基礎,並且不能以相同的分辨率移動。
系統安裝與訓練:
這是全面的“白手套”服務。經驗豐富的團隊成員到達現場 - 打開儀器包裝、組裝、平整系統。在測試樣本上執行開發的檢驗程序以驗證系統(安裝)。涵蓋了該技術的基礎知識。使用者接受過執行相同測試(訓練)的訓練。
多技術平台:
VersaSCAN 平台能夠利用定位系統和軟體作為其他掃描探針技術的通用元件。AMETEK 設備一流的測量特性與獨特的定位系統相結合,即使在大面積區域也能進行高解析度測量。
- VersaSCAN掃描電化學工作站最受歡迎技術
- SECM 使用 2 通道恆電位儀控制和監控樣品和探針的電化學
- 低電流介面提供改進的電流測量和最終分辨率
- 包括 AC-SECM 技術
- 可選 STYLUS 作為軟探頭,用於恆定距離成像和生物應用
VersaSCAN Positioning System
Specifications | VersaSCAN Base (VS-BASE) |
Positioning System Range | X-axis: 100 mm Y-axis: 100 mm Z-axis: 100 mm |
Positioning Motor Technology | X-axis: Piezoelectric motors, no stepper-motor Y-axis: Piezoelectric motors, no stepper-motor Z-axis: Piezoelectric motors, no stepper-motor |
SECM Measurement Technology
Specifications | VersaSTAT3 | VersaSTAT3F |
Max Current Output | ±2 A (standard) up to ±20 A |
±2 A (standard) up to ±20 A |
Compliance Voltage | ±12 V | ±12 V |
EIS Capability | 1 MHz, Option | 1 MHz, Option |
Min Current Range | ± 200 nA (6 pA resolution) down to ±4 pA (122 aA) |
± 4 nA (122 fA resolution) down to ±4 pA (122 aA) |
E and I Filters | 200 kHz to 1 kHz, including None |
200 kHz to 1 Hz, including None |
Grounding | Grounded, Earthed | Floating, Isolated |