Solartron ModulLab XM MTS 材料阻抗分析儀
MTS 材料電特性測試系統具有時域技術包括I-V，恆定DC，脈衝電位以及電位掃描。 AC技術包括阻抗，電容，介電常數，電氣模型，C-V以及Mott-Schottky。 可選模組擴充套件了測試範圍—高電壓、樣品/參比、功率放大器和低電流測試。 高/低溫系統及樣品架配件包括低溫系統、高溫爐等等
- 最寬的阻抗範圍 µ ohms 至 >100 Tohms
- 在時域（IV、快速脈衝）和交流（C-V、阻抗、莫特肖特基）測量之間即時切換，無需更改樣品連接
- 低頻至 10 µHz，用於降解、陷阱狀態和材料純度研究
- 即插即用選項包括 – Femto 和Sample/Reference modes（用於電介質/絕緣體）
- 所有 XM 系列系統均附有 XM-Studio 軟體
ModuLab XM MTS材料測試系統系列可測試電介質、絕緣體和電子材料的綜合電氣、熱和機械性能。這些系統包括專用配件：高壓放大器、低溫恆溫器、高溫爐以及用於液體、粉末和固體材料的樣品架。
ModuLab XM MTS可以執行時域 (DC) 和頻域 (AC) 測試。配件控制從低溫恆溫器到高溫爐，並透過軟體控制與核心測量電子系統集成，創建一個研究各種材料的系統。與其他 ModuLab plarogn 系統一樣，它可以擴展用於電化學或光電化學實驗。
Materials Lab XM使用相同的基於 XM 的平台，為材料研究這一重點應用提供 ModuLab 性能。這種集中設計使該儀器佔用的空間較小。 ModuLab 軟體包括用於非線性材料的整合等效電路分析、MultiSine 和諧波分析。
應用：
ModuLab XM MTS系統設計的目的是檢驗由絕緣體至超導體的幾乎任何型別的材料，包括:
- 奈米材料
- 半導體
- 光伏
- 陶瓷
- 聚合物
- 顯示材料
- 鐵電/壓電材料
- 介電材料
- 生物材料
- 超導體
該材料可以是固體，液體或粉末，可使用加熱到>1600℃高溫爐或冷卻到接近絕對零度的低溫系統。使用時間域，阻抗和溫度測試大多數材料均可獲得性能表徵。 對於如何用Solartron的系統測試這些材料可以在Solartron的網站上檢索得到應用案例：www.solartronanalytical.com/stacksofapps/
陶瓷
陶瓷經常用於高溫及絕緣領域，特別是航天渦輪扇葉、宇宙飛船的材料片、引擎噴嘴、感測器、盤狀剎車等。MTS系統的高電壓、高溫和低電流模組完美的提供了陶瓷材料的測試環境。
MTS多種選項：• MHV100V高電壓 • 外部*高電壓放大器（10kV） • MREF取樣/參比模式 • 微電流測量之MFAfA選項 • 高溫爐
聚合物
MTS系統可用於測量聚合物的電效能，如電纜絕緣材料、顯示屏基質材料、半導體低K介電材料、導電聚合物、塑膠塗層等。 阻抗測試廣泛應用於聚合物介電特性的測試。
MTS多種選項：• MHV100V高電壓 • MREF取樣/參比模式 • 微電流測量之MFA fA選項 • MFRA交流效能測試 • 低溫系統用於玻璃化試驗
奈米材料
新型奈米材料參雜於現有的陶瓷、聚合物等材料中，製造出具有優異的機械、電氣及熱特性的複合材料。MTS系統的多功能性及模組性結構是測試這些新型材料電效能的絕佳之選。
MTS多種選項：• MHV100V高電壓 • MREF取樣/參比模式 • 微電流測量之MFA fA選項 • 低溫系統 • MFRA交流效能測試
太陽能電池
太陽能電池以其來源於太陽的無窮無盡以及廉價的特點成為傳統燃料的替代。MTS系統整合I-V特性（評估功率/轉換效率）及阻抗/C-V特性（確定載流子密度和遷移率）測量為一體，簡化了測試程式，降低了投入成本。
MTS多種選項：• 時域和交流測試 • MHV100V高電壓 • MREF取樣/參比模式 • 微電流測量之MFA fA選項 • MBST 2A大電流選項 • MFRA交流效能測試
超導體
超導體是指在一個臨界溫度以下具有零電阻的材料，它們廣泛用於電磁體、如MRI、NMI與質譜儀；MTS系統的低阻抗測試特點和精確的溫控附件是測量超導材料的必選。 既能精確控制溫度，又能測量低阻抗，是對這類材料測試的要求。
MTS多種選項：• MBST 2A大電流選項用於 低阻抗測試 • 低溫系統 • MFRA交流效能測試
顯示材料
新型顯示技術，如OLED及AMOLED,為手提電腦、手機及薄屏電視提供了更大的發展潛力。MTS系統為該類產品提供了多種測試方法，如脈衝（顯示保持/Flicker測試）、I-V.C-V及阻抗測試。
MTS多種選項：• MHV100V高電壓 • MREF取樣/參比模式 • *微電流測量之MFA fA選項 • MFRA交流效能測試
半導體
半導體材料的電阻率因隨周圍的電場變化而變化，被廣泛應用於PC、整流器、太陽能電池、放大器等。MTS系統的AC與時域測量功能包括I-V、C-V、溫度控制及寬泛的電壓、電流範圍為研究者提供了極大的方便。
MTS多種選項：• I – V，C – V，Mott-Schottky • MHV100V高電壓 • MREF取樣/參比模式 • *微電流測量之MFA fA選項 • MBST 2A大電流選項 • 低溫系統 • MFRA交流效能測試
介電材料
鐵電材料（常用於電子應用， 如PC記憶體）、壓電材料、陶瓷、聚合物、油品、玻璃以及粘土都屬於介電材料（絕緣體）。MTS系統的高電壓、傑出的電流解析度及高精度非常適用於測量此類介電材料的電效能。
MTS多種選項：• I – V，阻抗 • MHV100V高電壓 • MREF取樣/參比模式 • *微電流測量之MFA fA選項 • 高溫爐或低溫系統 • MFRA交流效能測試
生物材料
利用時域及AC測量技術，MTS系統可用於各種生物材料、器官移植成活、醫用植入材料、血液、病毒或組織細胞以及藥物在體內傳輸的測量。 雖然不能直接和生物活體相連線，但是廣泛應用於體外測試。
MTS多種選項：• MREF取樣/參比模式 • 微電流測量之MFA fA選項 • 低溫系統 • MFRA交流效能測試
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Specifications |
ModuLab XM MTS |
Materials Lab XM |
1260A / 1296A |
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Maximum Frequency |
1 MHz |
1 MHz |
32 MHz |
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Combines with DC for |
Yes, with XM PSTAT 1 MS/s |
No |
Yes, with 1287A |
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Highest Impedance |
100 TOhms |
1 TOhms |
100 TOhms |
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Low Impedance |
10 µOhms |
1 mOhms |
100 mOhms |
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Software |
XM Studio |
XM Studio |
SMaRT, ZPLOT |